- zolix闪烁晶体的光谱、寿命、成像、光产额测量
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品牌:zolix 型号:- 加工定制:是
近年来,钙钛矿型闪烁体及钙钛矿型X 射线直接探测器被广泛研究及报道。在发光闪烁体层面,钙钛矿纳米晶闪烁体通过溶液即可制得,成本极低,且具备全色彩可调谐辐射发光的特点。在直接探测层面,铅卤钙钛矿材料因其具备较大的原子序数、高吸收系数等优点,在X 射线直接探测领域同样表现出非常优异的性能。
卓立汉光能够提供基于X 射线的稳态发光光谱,荧光寿命,瞬态光谱以及X 射线探测成像的相关测量方案。能够提供全套涵盖X 射线激发源、光谱仪、稳态及瞬态数据处理、成像测量(CMOS 成像,单像素成像,TFT 面阵成像)、辐射剂量表、辐射安全防护等,辐射防护防护满足国标《低能射线装置放射防护标准》(GBZ115-2023)。
如下陈述我们几种测量方案及相关配置明细
(一) 稳态光谱及荧光寿命采集
• 基于皮秒X 射线和TCSPC 测量原理的方法
• 纳秒脉冲X 射线
• 稳态和寿命测量数据
(二)X 射线探测成像
• X 射线探测成像光路图
• X 射线探测成像及脉冲X 射线实现光电流衰减测量
• TFT 集成的面阵X 射线成像
• 成像测量结果
(三) 技术参数
稳态光谱及荧光寿命采集 基于皮秒X 射线和TCSPC 测量原理的方法
包含:皮秒脉冲激光器、光激发X 射线管、TCSPC 或条纹相机。
由皮秒脉冲激光器激发“光激发X 射线管”发射出X-ray 作用于样品上,样品发射荧光,经光谱仪分光之后,由探测器探测光信号,数据采集器读取数据。 纳秒脉冲X 射线 稳态和寿命测量数据 X 射线探测成像
X 射线探测成像光路图TFT 集成的面阵X 射线成像TFT 传感芯片规格
TFT 读取系统规格
成像测量结果分辨率指标:TYP39 分辨率卡的X 射线图像。测试1mm 厚的YAG(Ce) 时,分辨率可以优于20lp/mm手机充电头成像测试密码狗成像测试技术参数稳态X 射线激发发光测量
光源
能量:4-50KV,功率:0-50W 连续可调,靶材:钨靶,铍窗厚度 200μm
样品位置辐射剂量:0-25Sv/h光路
透射和反射双光路,可切换
光谱范围
200-900nm(可扩展近红外)
监视器
内置监视器方便观察样品发光,可拍照
快门
可控屏蔽快门,辐射光源*大功率下,关闭快门,样品位置辐射剂量小于10uSv/h
辐射防护
满足国标《X 射线衍射仪和荧光分析仪卫视防护标准》(GBZ115-2023)
样品支架
配备粉末、液体、薄膜样品架
成像测量模块
成像面积:直径20mm(可定制更大面积:120mm×80mm)
成像耦合光路附件,样品测试夹具
相机参数:颜色:黑白,分辨率:20MP, 5472 (H) x 3648 (V),
像元尺寸:2.4μm×2.4μm,量子效率:84%@495nm,暗电流:0.001e-/pixel/s,
制冷温度:-15℃,成像分辨率:优于20lp/mm瞬态X 射线激发发光测量
光源
皮秒脉冲X 射线源
纳秒脉冲X 射线源*
405nm ps 激光二极管:波长:100Hz-100MHz 可调,
峰值功率:400mW@ 典型值,脉冲宽度:<100ps
光激发X 射线光管:辐射灵敏度:QE10%(@400nm),靶材:钨,
操作电压:40KV,操作电流:10μA@ 平均值,50μA@*大值电压:150KV
脉冲宽度:50ns
重复频率:10Hz
平均输出剂量率:2.4mR/pulse数据采集器
TCSPC 计数器
条纹相机(同时获得光谱和寿命)
示波器
瞬时饱和计数率:100Mcps
时间分辨率(ps):16/32/64/128/
256/512/1024/…/33554432
通道数:65535
死时间:< 10ns
支持稳态光谱采集
数据接口:USB3.0
*大量程:1.08μs @16ps,
67.1μs@1024ps,
2.19s@33554432ps光谱测量范围:200-900nm
时间分辨率:<=5ps,
( *小档位时间范围+ 光谱仪光路系统)
探测器:同步扫描型通用条纹相机ST10
测量时间窗口范围:500ps-100us
( 十档可选)
工作模式:静态模式,高频同步模式以及
低频触发模式;
系统光谱分辨率:<0.2nm@1200g/mm
单次成谱范围:>=100nm@150g/mm
静态(稳态)光谱采集,
瞬态条纹光谱成像及荧光寿命曲线采集模拟带宽:500 MHz
通道数:4+ EXT
实时采样率:5GSa/s( 交织模式),
2.5GSa/s( 非交织模式)
存储深度:250Mpts/ch( 交织模式),
125 Mpts/ch( 非交织模式)寿命尺度
500ps-10μs
100ps-100μs
100ns-50ms
X 射线探测成像
方式
CMOS 成像
单像素探测器
TFT 集成的面阵探测器
配置
成像耦合光路附件,样品测试夹具
相机参数:
颜色:黑白
分辨率:20MP, 5472 (H) x 3648 (V)
像元尺寸:2.4μm×2.4μm
量子效率:84%@495nm
暗电流:0.001e-/pixel/s
制冷温度:-15℃XY 二维电动位移台:
XY5050:
行程:X 轴50mm,Y 轴50mm,重复定
位精度1.5μm,水平负载4Kg;
XY120120:
行程:X 轴120mm,Y 轴120mm,重复
定位精度3μm,水平负载20KgTFT 阵列传感芯片
(可提供直接型和间接型芯片):
背板尺寸(H×V×T):
44.64×46.64×0.5 mm,
有源区尺寸(H×V):32×32mm,
分辨率(H×V):64×64,
像素大小:500×500μm
TFT 读出系统:
成像规格:
解析度:64 行×64 列,
数据灰阶:支持256 灰阶显示,
数据通信方式:WIFI 无线通讯,
数据显示载体:手机/ 平板(Android 9.0
以上操作系统、6GB 以上运行内存)辐射剂量
测定辐射计量表
探测器:塑料闪烁体, Ø30x15 mm
连续长期辐射:50 nSv/h ... 10 Sv/h
连续短期辐射:5 μSv/h ... 10 Sv/h
环境剂量当量测量范围:10 nSv ... 10 Sv
连续的短时辐射响应时间:0.03 s
相对固有误差:连续和短期辐射:±15% *大
137 Cs 灵敏度:70 cps/(μSv·h-1 )
剂量率变化0.1 to 1 μSv/h 的反应时间 ( 精度误差 ≤ ±10%) < 2 s
全
闪烁晶体的光产额(也称为光输出或光子产额)是指晶体在受到电离辐射(如γ 射线、X 射线或粒子)激发后,发射光子(通常是可见光)的数量。光产额通常以每单位能量沉积产生的光子数来表示,单位可以是光子/MeV。
光产额是衡量闪烁晶体性能的重要参数之一,它是衡量闪烁体材料性能的重要指标之一,也直接关系到该材料在实际应用中的灵敏度和效率。常见的闪烁晶体包括碘化钠(NaI),碘化铯(CsI),和氧化镧掺铈(LaBr3)等。不同的晶体材料会有不同的光产额,这取决于其发光机制、能带结构、以及材料的纯度和缺陷等因素。研究闪烁体材料的光产额对于提高其性能、拓展其应用具有重要的意义。
一些常见闪烁晶体的光产额值如下:
碘化钠(NaI(Tl)):约38,000 photons/MeV
氯化铯(CsI(Tl)):约54,000 photons/MeV
氧化铈掺杂的氧化镧(LaBr3):约63,000 photons/MeV
钇铝石榴石掺杂铈离子(YAG:Ce):约14,000 photons/MeV
光产额越高,意味着该晶体能够在相同的能量沉积条件下产生更多的光子,从而在探测器中生成更强的信号,通常也会导致更好的能量分辨率。
卓立汉光提供一整套包含同位素源、屏蔽铅箱(被测器件及光路)、光电倍增管、高压电源、闪烁体前置放大器、谱放大器、多道分析仪及测试软件,实现闪烁体的光产额测量。同位素源
Na-22(或 Cs-137 可选),屏蔽铅箱(被测器件及光路),充分保证测试人员安全
光电倍增管
光谱范围:160-650nm,有效面积:46mm 直径,上升时间:≤ 0.8ns
高压稳压电源
提供:0-3000V
闪烁体前置放大器 :
上升时间< 60ns
积分非线性≤ ±0.02%
计数率:250 mV 参考脉冲的增益偏移 <0.25%,同时应用 65,000/ 秒的 200 mV 随机脉冲的额外计 数速率,
前置放大器下降时间:信号源阻抗为 1 MΩ,则下降时间常数为 50 μs
谱放大器
高性能能谱,适合所有类型的辐射探测器(Ge、Si、闪烁体等) 积分非线性(单极输出): 从 0 到 +10V<0.025%
噪声:增益 >100 时,等效输入噪声 <5.0uV rms;手动模式下,增益> 1000 时,等效输入噪声
<4.5uV rms;或者自动模式下,增益 >100 时,等效输入噪声 <6.0uV rms
温度系数(0 到 50° C)单极输出:增益为 <+0.005%/'C,双极输出:增益为 <+0.07%/'C,直流电 平为 <+30μV/° C
误差:双极零交叉误差在 50:1 动态范围内 <±3 ns
增益范围:2.5-1500 连接可调,增益是 COARSE(粗调)和 FINE GAIN(微调增益)的乘积。
单极脉冲形状:可用开关为 UNIPOLAR(单极)输出端选择近似三角形脉冲形状或近似高斯脉冲形状。
配置专用 3kv 高压电源
2K 通道多道分析仪
ADC: 包括滑动标度线性化和小于 2us 的死区时间,包括存储器传输 积分非线性 : 在动态范围的前 99% 范围内≤士 0.025%。 差分非线性 : 在动态范围的前 99% 范围内小于士 1%。 增益不稳定性 :< 士 50 ppm/° C
死区时间校正 : 根据 Gedcke-Hale 方法进行的延长的实时校正。 USB 接口 :USB 2.0 到 PC 的数据传输速度*高可达 480Mbps
操作电脑
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光学平台
尺寸:1500*1200*800mm
台面 430 材质,厚度 200mm,带脚轮。固有频率:7-18Hz,整体焊接式支架
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