发射光谱/光源光谱测量系统

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发射光谱/光源光谱测量系统

ZLX-ES系列发射光谱/光源测量系统

发射光谱/光源测量系统介绍
发光体，如白炽灯、荧光灯、LED等辐射光谱及发光特性的测试，对研究其特性有很大帮助。系统不仅可测量光源或其他发射光谱分布，而且可在此基础上得到积分辐射通量、光通量、色坐标等。
针对不同辐射光源的特性，可灵活选择测试系统，如：宽带光源和LED通常分辨率要求不高，可使用Omni-λ150系列单色仪系统；激光器、放电灯、等离子体、原子发射光谱等要求分辨率高，可使用Omni-λ300、Omni-λ500、Omni-λ750系列单色仪系统；宽波长范围（UV～IR），建议采用双出口单色仪接两个探测器；测试宽光谱范围的发光体，建议采用SD滤光片轮消多级光谱。
系统组成：分光系统＋检测系统＋数据采集及处理系统＋软件系统＋计算机系统

*详细需求：	发射光谱/光源光谱测量系统
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