- Omni-λ200i 光栅光谱仪
详细信息
品牌:ZOLIX 加工定制:是 型号:Omni-λ200i 光源:参考技术参数 波长范围:参考技术参数 nm 焦距:参考技术参数 mm 外形尺寸:参考技术参数 mm 重量:参考技术参数 g 适用范围:参考技术参数
Omni-λ200i 光栅光谱仪特点- 光谱范围广,灵敏度高,测量精准度高;
- 优良的机械和温度稳定性,绝对保证产品的一致性;
- 预留各种接口,兼容各种光谱设备, 稳定的光学性能,方便集成到系统中;
- 成本低,操作简单,是OEM应用的理想选择;
- 采用超环面影像校准设计,光谱影像校正,多通道光谱研究的*佳解决方案
- 出色的杂散光抑制比(1*10-5)
- 双光栅塔轮设计,覆盖UV-VIS-IR全波段光谱范围,即插即用,只需零级校正,实验操作更加方便;
- 多种高性能的紫外-可见-红外探测器可选
- 多种附件可选,包括:滤光片轮、电动狭缝、电动快门、光纤等
- 可与光源、探测器自由组合,实现荧光、拉曼、透射/反射、吸收光谱及光源发射光谱测试。
Mercury Light Source 435.83 nm
FWHM: 0.15 nm
Peak wavelength: 435.80 nm
Grating: 1200 l/mm, Blaze@300 nm
规格参数表(@1200g/mm光栅)Omni-λ200i 焦距(mm) 200 相对孔径 f/3.5 光学结构 C-T 分辨率(nm)-PMT 0.15 分辨率(nm)-CCD(26um) 0.28 倒线色散(nm/mm) 3.6 波长准确度(nm) ±0.2 波长重复性(nm) ±0.1 扫描步距(nm) 0.01 杂散光 1×10-5 焦面尺寸(mm) 30(w)×14 (h) 光轴高度(mm) 146 狭缝规格 缝宽:0.01-3mm连续手动可调,可选配自动狭缝;缝高:2,4,14mm可选 光栅尺寸(mm) 50×50 光栅台 双光栅 外形尺寸(mm) 300×216×213 重量(Kg) 14 通讯接口 USB2.0
光路示意图
选型表型号 描述 Omni-λ2002i 200mm焦距影像校正单色仪,侧入口、CCD侧出口、可同时安装两块光栅 Omni-λ2003i 200mm焦距影像校正单色仪,侧入口、狭缝直出口、CCD侧出口、可同时安装两块光栅 Omni-λ2005i 200mm焦距影像校正单色仪,侧入口、狭缝直出口、可同时安装两块光栅 Omni-λ2007i 200mm焦距影像校正单色仪,侧入口、狭缝双出口、可同时安装两块光栅
CCD单次摄谱范围型号 光栅(g/mm) 倒线色散(nm/mm) 分辨率(nm)-CCD(26um) 分辨率(nm)-PMT 单次摄谱范围(nm)@ 30mm CCD Omni-λ200i 3600 1 0.1 0.05 30 2400 1.4 0.14 0.08 42 1800 2.16 0.2 0.1 64 1200 3.6 0.28 0.15 108 900 4.96 0.4 0.2 148 600 7.68 0.56 0.3 230 300 15.77 1.12 0.6 473 150 31.89 2.24 1.2 956
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