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卓立发射光谱测量系统介绍
2014-04-14 12:14:11 来源：zolix反射、透射这两种模式是光谱测量的基本手段。实现这两种模式的光谱测量，通常需要光谱仪、光源、光纤、测量支架、标准参比样品、和测量软件等。对于不同种类的样品，为了获取*佳的光谱数据，反射、透射这两种基本模式又会演化为更多的形式。
卓立为用户提供了以光谱仪为核心的光谱测量设备。利用这些配置丰富的设备，就可以搭建各种常见的光谱测量系统。
透 射、反射/吸收率是光学元件（如光学材料、滤光片、镀膜等）与多种生活材料（玻璃、布料、汽车贴膜等）的重要光学特性指标，我公司ZLX-AS系列 透射、反射/吸收光谱测量系统正是针对此应用需 求，而设计的高集成度，自动化的测量系统，它能帮助研发人员或品管人员在实验室轻易、快捷的完成透射率/反 射率的光谱测试。
系统组成：光源系统+分光系统＋样品检测系统＋数据采集及处理系统＋软件系统＋计算机系统
■ OmniAS透射、反射/吸收光谱测量系统
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北京卓立汉光仪器有限公司
卓立汉光主要生产经营：光谱仪、光谱测量系统、太阳电池检测系统、LED测量仪器、电控精密位移台、手动精密位移台、光学调整架、光学平台、光学元件等系列产品。
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